摘要

此專利公開了一種三維度尺寸測量平臺,包括框架、大理石平臺、左導軌支架、右導軌支架、導軌、橫樑,所述框架右側中間設有顯示器支架,所述框架上方設有立柱,所述立柱設在框架頂部的四周,所述立柱上方設有大理石平臺,所述大理石平臺通過減震墊與立柱連接,所述大理石平臺左右兩端設有左導軌支架和右導軌支架,所述右導軌支架上方設有直線電機,所述左導軌支架上方設有導軌條,所述左導軌支架、右導軌支架上方設有橫樑,所述橫樑左端通過滑塊與導軌條連接,所述橫樑右端通過滑座與直線電機連接,所述橫樑上設有導軌,所述導軌上設有與導軌滑動連接的調整平臺,所述調整平臺連接有3D相機,結構簡單,精確度高,使用方便。

優勢

此專利提供的一種三維度尺寸測量平台具有如下優點:

1、3D測量時,可以有效的被測物件的高度資訊,從而計算多個平面或者弧面間的斷差、平整度、縫隙等。

2、減震墊可以降低噪音,並且保證了設備的使用壽命。

3、利用第二2D相機定位,更加精准的對測對象進行定位,保證測量結果的準確性。

4、結構簡單,精確度高,使用方便。

5、框架設有儲物櫃,且底部設有方向輪。

附圖說明

圖1為一種三維度尺寸測量平臺的組合結構示意圖;

圖2為一種三維度尺寸測量平臺的立體結構示意圖;

圖3為一種三維度尺寸測量平臺的左視圖;

圖4為一種三維度尺寸測量平臺的3D相機結構示意圖。

圖中:1-框架,2-直線電機,3-導軌,4-3D相機,5-調整平臺,6-第一 2D相機,7-第二2D相機,8-光源片,10-導軌條,11-萬向輪,12-立柱,13- 減震墊,14-大理石平臺,15-右導軌支架,16-顯示器支架,17-橫樑,18-左導軌支架,19-儲物櫃,20-鏡頭,21-鋁板,22-雷射器,23-相機。

圖1

圖2

圖3

圖4